Spectrométrie de photoélectrons_XPS Etablissement
Matériaux Alger 152 vues Référence : 811
Localité : Alger
La spectrométrie photoélectronique X, ou spectrométrie de photoélectrons induits par rayons X (en anglais, X-Ray photoelectron spectrometry : XPS) est une méthode de spectrométrie photoélectronique qui implique la mesure des spectres de photoélectrons induits par des photons de rayon X. Dans l’XPS, l'échantillon est bombardé par des rayons X d'une certaine longueur d'onde (issus de sources AlKa et ou Al/Mg), ce qui émet un photoélectron qui est par la suite détecté. Les photoélectrons ont des énergies propres à chaque élément, ce qui permet de déterminer la composition de l'échantillon. Pour une analyse qualitative, l'élément doit avoir une concentration plus élevée que 0,1%, tandis qu'une analyse quantitative peut être effectuée si 5% de l'élément est présent. La méthode était anciennement nommée ESCA (electron spectroscopy for chemical Analysis : Spectroscopie d'Electron pour l'Analyse Chimique). Applications : Les spectromètres XPS Thermo Scientific sont la solution pour vos analyses d’interface, de film mince et de surface les plus complexes. · Ils permettent aux scientifiques à la pointe de la science des matériaux de connaître d’importantes avancées dans le domaine du développement de films ultra-minces et de nanotechnologies. |
