Spectrométrie de photoélectrons_XPS Etablissement

Matériaux   Alger   117 vues Référence : 811

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Localité : Alger


La spectrométrie photoélectronique X, ou spectrométrie de photoélectrons induits par rayons X (en anglais, X-Ray photoelectron spectrometry : XPS) est une méthode de spectrométrie photoélectronique qui implique la mesure des spectres de photoélectrons induits par des photons de rayon X. Dans l’XPS, l'échantillon est bombardé par des rayons X d'une certaine longueur d'onde (issus de sources AlKa et ou Al/Mg), ce qui émet un photoélectron qui est par la suite détecté. Les photoélectrons ont des énergies propres à chaque élément, ce qui permet de déterminer la composition de l'échantillon. Pour une analyse qualitative, l'élément doit avoir une concentration plus élevée que 0,1%, tandis qu'une analyse quantitative peut être effectuée si 5% de l'élément est présent. La méthode était anciennement nommée ESCA (electron spectroscopy for chemical Analysis : Spectroscopie d'Electron pour l'Analyse Chimique).

Applications :

Les spectromètres XPS Thermo Scientific sont la solution pour vos analyses d’interface, de film mince et de surface les plus complexes.

· Ils permettent aux scientifiques à la pointe de la science des matériaux de connaître d’importantes avancées dans le domaine du développement de films ultra-minces et de nanotechnologies.

Informations complémentaires

Type d'établissement :
Centre de recherche
Contribution :
Equipement
Document téléchargé :
Site web :
www.crtse.dz
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