Section analyse PTAPC/CRAPC Laghouat - Microscope à Force Atomique AFM A100 Etablissement
Matériaux Laghouat 208 vues Référence : 222Localité : Laghouat
AFM A100 est un microscope à force atomique développé par A.P.E Research. Il permet d'étudier et visualiser les topographies des surfaces des zones allant de quelques nanomètres de dimensions et de mesurer des forces de l'ordre du nanonewton, avec des résolutions atomiques. Elle est capable de quantifier la rugosité de la surface des échantillons jusqu'à l'échelle de l'angström (A°).
Principales caractéristiques :
•Haute polyvalence.
•Facilité d'utilisation.
•Échantillons facilement interchangeables.
•Approche d'échantillonnage de pointe automatique.
•Système intégré d'amortissement acoustique et vibratoire.
Caractéristiques techniques :
•Système de balayage A100 SPM : peut être équipé de différents types de scanners basées sur la flexion, pour différentes plages de travail.
•Environnements de fonction : dans l'air ou dans des liquides.
•peut applique sur les échantillons : organique et inorganique.
•Modes de travail :
-mode AFM contact, mode non-contact, mode semi-contact.
•permet de fournée des informations sur l'imagerie de phase, modulation de force, microscopie à force latérale, analyse des courbes de force, propriétés électriques, microscopie à force magnétique, etc.
Domaines d’application
•Nanotechnologie (ex, stockage de données, Stockage d'Energie, Caractérisation nano mécanique et nano électrique), et en Biomatériaux.
•L’aérospatial, biomédical/biotechnologie, semi-conducteurs composés, produits pharmaceutiques, photonique, polymères, semi-conducteurs, photovoltaïque, télécommunications.
Informations complémentaires
Type d'établissement :
Plateforme technologique
Contribution :
Equipement
Site web :
crapc.dz