Microsonde ionique Spectromètre de Masse des Ions Secondaires_SIMS Etablissement

Matériaux   Alger   70 vues Référence : 766

0.0 étoile

Localité : Alger


La Spectrométrie de masse à ionisation secondaire donne des profils de profondeur de concentrations de dopants et d’impuretés couvrant une gamme étendue, allant de quelques angströms à des dizaines de microns.

L'échantillon est pulvérisé gravé avec un faisceau d'ions primaires (O ou Cs d'habitude) et les ions secondaires formés au cours du processus sont extraits et analysés avec un spectromètre de masse.

Elle donne en outre :

  • Profil de concentration.
  • Spectre de masse.
  • Baregraphe.
  • Calcul Isotopique
  • Image Ionique

Informations complémentaires

Type d'établissement :
Centre de recherche
Contribution :
Equipement
Document téléchargé :
Site web :
www.crtse.dz
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