(FEG) Microscope électronique à balayage à canon à émission de champ Etablissement

Un microscope électronique à balayage à canon à émission de champ (FEG-SEM) Field Emission Gun Scanning Electron Microscope) est une variante avancée du microscope électronique à balayage (SEM). Il utilise une source d'émission de champ pour générer un faisceau d'électrons extrêmement fin et focalisé, permettant une résolution spatiale exceptionnelle.

le FEG-SEM est un outil puissant pour l'observation et l'analyse à l'échelle microscopique, offrant des informations détaillées sur la morphologie et la composition chimique des échantillons. Il est largement utilisé dans des domaines tels que la recherche en sciences des matériaux, la nanotechnologie, la biologie et d'autres domaines de la recherche scientifique.